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场发射透射电子显微镜 |
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透射电子显微镜 |
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仪器型号：JEM-F200
产地：日本
仪器制造商：日本电子株式会社JEOL
仪器负责人：叶晓亮、刘美梅、冯世强
放置地点：海西研究院-嘉锡楼105
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：微观结构观察（形貌、结构）、成分分析、三维重构、EELS、冷冻数据测试、原位（加热、气氛）测试等。
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仪器型号：JEM-2100 Plus
产地：日本
仪器制造商：日本电子株式会社JEOL
仪器负责人：叶晓亮、刘美梅、冯世强
放置地点：海西研究院-嘉锡楼105
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：TEM成像、微区化学元素分析、SAED电子衍射分析等。
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场发射扫描电子显微镜 |
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原子力显微镜 |
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仪器型号：Gemini 360
产地：德国
仪器制造商：卡尔·蔡司Carl Zeiss
仪器负责人：陈辉、吴厚霖
放置地点：海西研究院-嘉锡楼345
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：可实现物质微观结构分析和成分分析，金属、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微区分析等。
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仪器型号：Dimension Icon
产地：德国
仪器制造商：德国布鲁克公司
仪器负责人：方照诒
放置地点：海西研究院-1号楼101
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于材料纳米级表面形貌、粗糙度的测量，同时还可以测试纳米材料的表面机械性能、电学、磁学和电化学等物理特性等。
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钨灯丝扫描电子显微镜 |
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台式扫描电镜+能谱仪 |
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仪器型号：Axia ChemiSEM HiVac
产地：美国
仪器制造商：美国赛默飞世尔科技公司
仪器负责人：苏丽评
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼316
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于微观形貌结构观察和定性定量成分分析。背散射电子像可判别陶瓷、金属或合金等材料的原子序数相对大小，集成式能谱可在成像同时提供高质量的彩色成分定性定量信息等。
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仪器型号：FlexSEM 1000
产地：日本
仪器制造商：日本日立高新技术集团
仪器负责人：黄秋凤
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼318
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于样品表面形貌、结构和成分分析（EDS点、线、面分析）等。
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台式扫描电子显微镜 |
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3D数码金相显微镜 |
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仪器型号：JCM-7000
产地：日本
仪器制造商：日本电子株式会社JEOL
仪器负责人：薛育育
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼318
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于观察和分析微观结构，可进行3D成像、成分和元素的分析。能谱仪可实现点、线、区域、颗粒定性定量分析、元素面分布图分析。
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仪器型号：VHX-970FN
产地：日本
仪器制造商：基恩士（中国）有限公司
仪器负责人：薛育育
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：具备自动对焦、无线自动识别、快速深度合成、3D显示功能，具备多种尺寸测量工具，边观察边测量，凭借3D显示可从多角度进行观测样品表面形状，同时可在空气中判别部分元素。
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金相显微镜 |
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金相显微镜 |
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仪器型号：BX53M
产地：日本
仪器制造商：日本奥林巴斯株式会社
仪器负责人：薛育育
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：观察和分析微观结构，可测金属、陶瓷、高分子等样品。
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仪器型号：Axiolab 5
产地：德国
仪器制造商：卡尔·蔡司Carl Zeiss
仪器负责人：陈辉
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于样品表面形貌结构观察和测量，具备明场、ADF高级暗场，可高清拍照和录像，物理像素不低于800万，帧数不低于30fps，配有专业图像采集分析软件等。
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数字显微镜 |
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台阶仪 |
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仪器型号：Smartzoom 5
产地：德国
仪器制造商：卡尔·蔡司Carl Zeiss
仪器负责人：苏丽评
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：可对样品表面进行形貌观察，可快速对样品进行二维、三维成像与测量， 粉末、块状、薄膜样品、液体样品都可进行测试。
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仪器型号：DEKTAK XT
产地：德国
仪器制造商：德国布鲁克公司
仪器负责人：陈辉
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于纳米级表面形貌测量，在微电子、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业广泛应用。
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荧光显微镜 |
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三维光学轮廓仪（白光干涉仪） |
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仪器型号：LV100N POL
产地：日本
仪器制造商：日本尼康株式会社
仪器负责人：张海涛
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：可观察陶瓷、玻璃、晶体等固体材料或生物标本在偏光/荧光下的样品微观形貌。基于偏光显微镜成像原理，配置特定波长光源，利用荧光物质光致发光原理，观察样品微观形貌、双折射效应。
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仪器型号：ContourX-200
产地：德国
仪器制造商：德国布鲁克公司
仪器负责人：徐依诗
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于获得材料表面的粗糙度、波纹度、翘曲度、自相关函数、承载曲线、轮廓线提取等三维特征参数。以及对材料表面形貌的三维测量，包括：水平尺寸、高度、面积、体积、缺陷深度、曲率半径、倾斜角、栅线分析等。
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空间多维度探针/蓝光测量系统 |
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仪器型号：RA8520-7PLUS
产地：中国青岛
仪器制造商：海克斯康
仪器负责人：张政
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼312
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：用于快速精确扫描测量零部件表面情况，分析检测理论模型与真实误差或逆向生成三角面片模型。零部件尺寸锚定与激光形貌探测。
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