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波谱分析测试
 
 

 

 

原位近常压X射线光电子能谱仪

  

紫外可见分光光度计

仪器型号：Proven-X NAP 
产地：德国
仪器制造商：德国SPECS公司
仪器负责人：姜文静
放置地点：海西研究院-嘉锡楼107
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：采用独立差分抽气系统，并配有高压预处理室（HPC）、残余气体分析器（RGA）和手套箱等附属装置，可实现特定反应气氛下固体表面电子结构的原位XPS分析。能够实现样品在环境气压最高25mbar的条件下的光电子能谱原位测量。样品最高可以加热到1100K，能够满足大部分催化反应、固-气界面等方面的研究，在越来越多的学科中获得广泛应用，特别是在物理化学、无机化学、材料学中的应用。
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仪器型号：U-3900 
产地：日本
仪器制造商：日本日立高新技术集团
仪器负责人：许文涛
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼320
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
仪器状态：测试材料透射光谱、吸收光谱、反射光谱等光学性能。 可对固体、液体、薄膜、粉末材料进行测试。
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