首页 >> 支撑系统 >> 仪器设备 >> 已开放仪器设备 >> 波谱分析测试
波谱分析测试
 
 

 

 

原位近常压X射线光电子能谱仪

  

光电薄膜器件稳态/瞬态发光测试系统

仪器型号：Proven-X NAP 
产地：德国
仪器制造商：德国SPECS公司
仪器负责人：姜文静
放置地点：海西研究院-嘉锡楼107
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：采用独立差分抽气系统，并配有高压预处理室（HPC）、残余气体分析器（RGA）和手套箱等附属装置，可实现特定反应气氛下固体表面电子结构的原位XPS分析。能够实现样品在环境气压最高25mbar的条件下的光电子能谱原位测量。样品最高可以加热到1100K，能够满足大部分催化反应、固-气界面等方面的研究，在越来越多的学科中获得广泛应用，特别是在物理化学、无机化学、材料学中的应用。
更多信息-->

  

仪器型号：FLS1000 
产地：英国
仪器制造商：英国爱丁堡
仪器负责人：施林熙
放置地点：闽海西研究院-嘉锡楼1013
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
仪器状态：测试稳态荧光光谱（激发光谱、发射光谱），荧光量子产率、瞬态荧光光谱（时间分辨光谱、荧光寿命）、变温荧光光谱及寿命（100K-300K）。可用于液体、固体、粉末、薄膜，高浓度溶液和浑浊溶液样品的前表面发光测试。
更多信息-->
     

   

紫外可见分光光度计

    

仪器型号：U-3900 
产地：日本
仪器制造商：日本日立高新技术集团
仪器负责人：许文涛
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼320
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
仪器状态：测试材料透射光谱、吸收光谱、反射光谱等光学性能。 可对固体、液体、薄膜、粉末材料进行测试。
更多信息-->