首页 >> 支撑系统 >> 仪器设备 >> 已开放仪器设备 >> 结构成分分析
结构成分分析
 
 

 

 

X射线散射线站

  

X射线单晶衍射仪

仪器型号：Xeuss 3.0
产地：法国
仪器制造商：法国Xenocs公司
仪器负责人：汤昌泉
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼325
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：准确反映材料内部（固体、液体、胶体等）或薄膜表面的纳米结构信息，得到关于纳米粒子形状、尺寸及分布， 还有取向的统计信息；精确测量分子堆叠及取向信息； 实现对原位过程（液相反应、变温、应力场、电化学等）结构演变的观察。
更多信息-->

  

仪器型号：XtaLAB Synergy Custom 
产地：日本
仪器制造商：日本理学株式会社
仪器负责人：丁清荣
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼323
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：精确测定无机物、有机物和金属配合物等晶体材料的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊结构。
更多信息-->
     

 

X射线显微镜

  

台式X射线精细结构谱仪

仪器型号：nano 3DX 
产地：日本
仪器制造商：日本理学株式会社
仪器负责人：凌军荣
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼316
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：亚微米分辨率成像，无损重构样品内部三维结构，以及孔隙、夹杂、裂纹等缺陷定量分析，可进行断层扫描、内部缺陷检测、晶粒分析、几何尺寸测量、孔隙率测定。
更多信息-->

  

仪器型号：easyXAFS300+ 
产地：美国
仪器制造商：美国easyXAFS公司
仪器负责人：汤昌泉
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼327
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：采用独有的X射线单色器设计，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式。主要用于元素氧化态，键共价性以及化学环境等方面的研究，对于材料化学和电子结构分析、揭示催化剂活性中心的价态和配位结构和催化反应机理、反应路径具有重要意义。
更多信息-->
     

 

 

台式X射线衍射仪

  

X射线衍射仪 

仪器型号： MiniFelx660 
产地： 日本
仪器制造商： 日本理学
仪器负责人： 徐师柯
放置地点： 福州大学-材料学院318
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能： X射线衍射图谱、物相分析、晶体结构解析、取向分析、宏观残留应力的方向和大小的测定、晶粒大小和微观应力测定以及晶体中的缺陷分析。
更多信息-->

  

仪器型号：D2 PHASER
产地：德国
仪器制造商：德国布鲁克公司
仪器负责人：苏丽评
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼323
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能：通过Bragg-Brentano几何，可以获得高质量的衍射数据，用于定性、定量分析、晶粒大小及微观应力分析、结晶度分析以及结构精修D2衍射仪具有低角度功能测量功能，对于催化剂介孔材料类物质，有些具有大晶面间距的材料，低角度数据非常重要，可以不漏过有用的信息而影响数据分析。
更多信息-->
     

   

激光显微拉曼光谱仪

    

仪器型号： DXR3 
产地： 美国
仪器制造商： 美国赛默飞世尔科技公司
仪器负责人： 苏丽评
放置地点： 闽都创新实验室-D区3号楼330
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态：在用
主要功能： 根据对拉曼频率的确认，可对物质进行定性、鉴别晶型，同时形成拉曼光谱，拉曼位移的改变可对应材料的应力、张力、掺杂等，峰强可对物质进行半定量，峰宽的变化可对应物质无序性以及缺陷改变。
更多信息-->