仪器型号：Xeuss 3.0 产地：法国 仪器制造商：法国Xenocs公司 仪器尺寸：8200*1100*1600 mm 仪器负责人： 汤昌泉 放置地点： 闽都实验室园区D3号楼307 联系方式： tscb@fjoel.cn 仪器状态： 在用

        仪器简介： 
        Xeuss3.0是新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。可准确反映各种材料内部（固体、液体、胶体等）或薄膜表面的纳米结构信息。 
        主要技术参数： 
        1、X射线源： 
        （1）铜靶的靶上焦斑（直径）：30μm（标准：DIN EN 12543-5）； 
        （2）光源全自动内循环水冷散热控温精度：0.1℃； 
        2、无散射狭缝准直系统： 
        （1）无散射狭缝组：2组； 
        （2）光斑大小：0.15 ~ 2.0mm； 
        （3）光斑实时连续改变精度：0.001 mm； 
        （4）样品处最大X射线的通量：≥5×10⁸ phs/s； 
        （5）系统动态量程：≥ 1×10¹⁰； 
        （6）光路真空度：≤0.1mbar； 
        3、二维小角最小可测散射矢量q_min：0.008 nm^-1。 
        测试项目： 
        1、2D-SAXS/2D-WAXS透射样品（粉末、薄膜、纤维、溶液）； 
        2、2D-GISAXS/2D-GIWAXS掠入射样品（薄膜）； 
        3、变温测试（-150~350℃）； 
        4、拉伸测试（0-200N）。 
        样品要求： 
        （1）样品不得包含水、酸等易挥发、易分解或具有腐蚀性的成分； 
        （2）多孔或易潮解的样品需提前真空干燥处理； 
        （3）样品不得具有剧毒或放射性等危害测试人员与设备的成分。