仪器型号：nano 3DX  产地：日本 仪器制造商：日本理学株式会社  仪器负责人：凌军荣 放置地点： 闽都创新实验室-D3号楼316 联系方式： tscb@fjoel.cn 仪器状态： 在用

        主要功能： 
        亚微米分辨率成像，无损重构样品内部三维结构，以及孔隙、夹杂、裂纹等缺陷定量分析，可进行断层扫描、内部缺陷检测、晶粒分析、几何尺寸测量、孔隙率测定。 
        工作原理： 
        1、基于X射线的穿透性、荧光效应和感光效应。 
        2、基于物质成分之间密度和厚度的差异。 
        X射线利用这种穿透性和物质密度差异性将不同组织成分区分出来，实现X射线透视和成像以及三维重构。  
        主要技术参数： 
        1、X射线源：微焦斑光源，最大输出功率：1200 W； 
        2、靶材：钨/铜双靶，靶上最小焦斑尺寸：70 μm； 
        3、采用旋转阳极靶，实现高功率快速测试，自动双波长切换； 
        4、采用sCMOS探测器：像素数量：2048*2048，像素尺寸：6.5 μm×6.5 μm，像素分辨率：最小325 nm； 
        5、采用高精度5轴自动样品台：精度优于1 μm，样品旋转范围：-360°～360°； 
        6、原位高温高压附件：温度RT～200 ℃，压力1～200 N，同时实现温度和压力变化测试； 
        7、控制软件：X射线三维数据收集和CT结构重建，实现三维显示、分析孔隙、夹杂、裂纹等缺陷无损检测和定量分析。 
        可测试样品： 
        陶瓷、金属、高分子、碳纤维等各种固态材料。