场发射透射电子显微镜

仪器型号：JEM-F200 产地：日本 仪器制造商：日本电子株式会社JEOL 仪器负责人： 叶晓亮、刘美梅、冯世强 放置地点： 海西研究院园区嘉锡楼105 联系方式： tscb@fjoel.cn 仪器状态： 在用

        仪器简介： 
        日本电子JEM-F200是一款新型的冷场发射透射电子显微镜。该设备配置有HAADF附件，并采用全新概念的四级聚光镜设计，分别控制亮度和汇聚角，能最大程度发挥出STEM功能；安装有两个100平方毫米无窗探头及双能谱混合器，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度；低剂量曝光技术和图像三维重构软件可提供独特的图像三维重构功能。该设备可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微分析。 
        主要技术指标： 
        加速电压：200 kV； 
        电子枪：高亮度冷场发射电子源，能量分辨率<0.33 eV； 
        点分辨率：0.23 nm； 
        线分辨率：0.10 nm； 
        信息分辨率：0.11 nm； 
        TEM模式下放大倍数：20～2,000,000倍，STEM高角环形暗场像分辨率：0.16 nm； 
        X射线能谱仪的元素分析范围：4Be～92U。 
        测试项目： 
        （1）微观结构观察：材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析，包括明场像、暗场像、STEM像、高角环形暗场像、选区电子衍射、背散射电子/二次电子像和高分辨分析等； 
        （2）成分分析：可进行成分的定性和半定量分析，元素的点、线和面分析等； 
        （3）三维重构； 
        （4）eels； 
        （5）冷冻数据测试、原位（加热、气氛）测试。 
        样品要求： 
        不接收有毒性、腐蚀性、刺激性、易燃、易爆、放射性、磁性等对人员和仪器有害的样品；薄层样品：厚度为几十纳米以下。粉末样品：用户提供研磨好的样品，如果团聚严重，一般使用超声波分散，放入塑料离心管中，标明样品名后送至电镜室。由测试人员加无水乙醇超声波分散、制样。如需特殊分散介质请自备并加以说明。 
        块状样品：由测试人员制样。