台式X射线吸收精细结构谱仪

仪器型号：easyXAFS 300+ 产地：美国 仪器制造商：美国 easyXAFS 公司 仪器尺寸：1247*1501*987 mm 仪器负责人： 汤昌泉 放置地点： 闽都实验室园区D3号楼319 联系方式： tscb@fjoel.cn 仪器状态： 在用

 

        仪器简介： 台式X射线吸收精细结构谱仪是由美国easyXAFS公司研发设计的X射线吸收精细结构谱仪；采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，提供XAFS和XES两种测量模式，并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质晕，广泛应用在催化，电池等研究领域，实现对元素的测定，价态和结构分析等。 
        主要功能：主要用于元素氧化态，键共价性以及化学环境等方面的研究，对于材料化学和电子结构分析、揭示催化剂活性中心的价态和配位结构和催化反应机理、反应路径具有重要意义。 
        主要技术参数： 
        能量范围：5 ~ 12 keV，最高达19 keV 
        X射线单色器布拉格角测量范围布拉格角范围：55° ~ 85° 
        X射线源：1.2 kW XRD（Mo/W/Ag）、100 W型XRF型X射线源 
        球面晶体（Si/Ge）：10 cm直径，50 cm曲率半径 
        分辨率：0.5 ~ 1.5 eV（7 ~ 9 keV） 
        重复性：＜50 meV能量尺度漂移，无需单色仪校准 
        光通量：300000 - 500000 photons/sec（7 ~ 9 keV） 
        样品轮：8位自动样品轮