透射电子显微镜

仪器型号：JEM-2100 Plus 产地：日本 仪器制造商：日本电子株式会社JEOL 仪器负责人： 叶晓亮、刘美梅、冯世强 放置地点： 海西研究院园区嘉锡楼105 联系方式： tscb@fjoel.cn 仪器状态： 在用

        仪器简介： 
        JEM-2100Plus拥有信誉卓著的JEM-2100的电子光学系统，采用3级聚光镜，在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。用于各种材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析，可以在短时间内得到高分辨的图像观察和成分分析，结合高灵敏度的能谱仪可以实现快速成分分析。广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。 
        主要技术参数： 
        电子枪：六硼化镧（LaB6）灯丝； 
        加速电压：最高加速电压200kV，最小步长为50 V； 
        点分辨率：0.23nm（200 kV）； 
        线分辨率：0.14nm（200 kV）； 
        能谱分析：硅漂移SDD电子制冷探测器，探测有效面积：80mm²，元素分析范围：Be4-Cf98，分辨率：Mn Kα优于133eV。 
        测试项目： 
        1、TEM成像； 
        2、微区化学元素分析； 
        3、SAED电子衍射分析。 
        样品要求： 
        不接收有毒性、腐蚀性、刺激性、易燃、易爆、放射性、磁性等对人员和仪器有害的样品；薄层样品：厚度为几十纳米以下。粉末样品：用户提供研磨好的样品，如果团聚严重，一般使用超声波分散，放入塑料离心管中，标明样品名后送至电镜室。由测试人员加无水乙醇超声波分散、制样。如需特殊分散介质请自备并加以说明。 
        块状样品：由测试人员制样。