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场发射透射电子显微镜 | | 透射电子显微镜 |
仪器型号: JEM-F200 产地: 日本 仪器制造商: 日本电子株式会社JEOL 仪器负责人: 叶晓亮、刘美梅、冯世强 放置地点: 海西研究院园区-嘉锡楼105 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 微观结构观察(形貌、结构)、成分分析、三维重构、EELS、冷冻数据测试、原位(加热、气氛)测试等。 更多信息--> | | 仪器型号: JEM-2100 Plus 产地: 日本 仪器制造商: 日本电子株式会社JEOL 仪器负责人: 叶晓亮、刘美梅、冯世强 放置地点: 海西研究院园区-嘉锡楼105 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: TEM成像、微区化学元素分析、SAED电子衍射分析等。 更多信息--> |
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场发射扫描电子显微镜 | | 原子力显微镜 |
仪器型号: Gemini 360 产地: 德国 仪器制造商: 卡尔·蔡司Carl Zeiss 仪器负责人: 陈辉、吴厚霖 放置地点: 海西研究院园区-嘉锡楼345 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 可实现物质微观结构分析和成分分析,金属、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微区分析等。 更多信息--> | | 仪器型号: Dimension Icon 产地: 德国 仪器制造商: 德国布鲁克公司 仪器负责人: 方照诒 放置地点: 海西研究院园区-1号楼101 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 用于材料纳米级表面形貌、粗糙度的测量,同时还可以测试纳米材料的表面机械性能、电学、磁学和电化学等物理特性等。 更多信息--> |
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钨灯丝扫描电子显微镜 | | 台式扫描电镜+能谱仪 |
仪器型号: Axia ChemiSEM HiVac 产地: 美国 仪器制造商: 美国赛默飞世尔科技公司 仪器负责人: 崔亚琪 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼316 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 用于微观形貌结构观察和定性定量成分分析。背散射电子像可判别陶瓷、金属或合金等材料的原子序数相对大小,集成式能谱可在成像同时提供高质量的彩色成分定性定量信息等。 更多信息--> | | 仪器型号: FlexSEM 1000 产地: 日本 仪器制造商: 日本日立高新技术集团 仪器负责人: 黄秋凤 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼318 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 用于样品表面形貌、结构和成分分析(EDS点、线、面分析)等。 更多信息--> |
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台式扫描电子显微镜 | | 3D数码金相显微镜 |
仪器型号: JCM-7000 产地: 日本 仪器制造商:日本电子株式会社JEOL 仪器负责人: 薛育育 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼318 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 用于观察和分析微观结构,可进行3D成像、成分和元素的分析。能谱仪可实现点、线、区域、颗粒定性定量分析、元素面分布图分析。 更多信息--> | | 仪器型号: VHX-970FN 产地: 日本 仪器制造商:基恩士(中国)有限公司 仪器负责人: 薛育育 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼312 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 具备自动对焦、无线自动识别、快速深度合成、3D显示功能,具备多种尺寸测量工具,边观察边测量,凭借3D显示可从多角度进行观测样品表面形状,同时可在空气中判别部分元素。 更多信息--> |
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金相显微镜 | | 金相显微镜 |
仪器型号: BX53M 产地: 日本 仪器制造商:日本奥林巴斯株式会社 仪器负责人: 薛育育 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼312 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 观察和分析微观结构,可测金属、陶瓷、高分子等样品。 更多信息--> | | 仪器型号: Axiolab 5 产地: 德国 仪器制造商:卡尔·蔡司Carl Zeiss 仪器负责人: 陈辉 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼312 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 用于样品表面形貌结构观察和测量,具备明场、ADF高级暗场,可高清拍照和录像,物理像素不低于800万,帧数不低于30fps,配有专业图像采集分析软件等。 更多信息--> |
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数字显微镜 | | 台阶仪 |
仪器型号: Smartzoom 5 产地: 德国 仪器制造商:卡尔·蔡司Carl Zeiss 仪器负责人: 崔亚琪 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼312 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 可对样品表面进行形貌观察,可快速对样品进行二维、三维成像与测量, 粉末、块状、薄膜样品、液体样品都可进行测试。 更多信息--> | | 仪器型号: DEKTAK XT 产地: 德国 仪器制造商:德国布鲁克公司 仪器负责人: 陈辉 放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼312 联系方式: tscb@fjoel.cn 仪器状态: 在用 主要功能: 用于纳米级表面形貌测量,在微电子、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学等行业广泛应用。 更多信息--> |
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