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光学物理检测
 
 

 

 

椭偏仪

  

椭偏仪

仪器型号： SE-VM-L
产地： 中国
仪器制造商： 武汉颐光科技有限公司
仪器负责人： 曾雪淇
放置地点： 闽都实验室园区-D区3号楼312
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，双旋转调制技术，多功能模块定制化设计。可测Muller Matrix 16组(其中m11归一化）、Psi/Delta、反射率R、透射率T、退偏指数Depolarization。广泛应用于光通讯、OLED、TP、透明导电膜等涉及透明衬底镀膜测量表征应用。
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仪器型号： SE-VE-L
产地： 中国
仪器制造商： 武汉颐光科技有限公司
仪器负责人： 陈辉
放置地点： 闽都实验室园区-D区3号楼312
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 该仪器是基于旋转补偿器调制技术，一次性获取Psi/Delta、N/C/S数值，可实现基底上单层到多层薄膜的膜厚、光学常数（折射率、消光系数）的快速分析表征。
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红外光折射率测量仪

  

发射器光学测试系统

仪器型号： Prism Pro Spectrum
产地： 美国
仪器制造商： 美国M3公司
仪器负责人： 李丙轩
放置地点： 闽都实验室园区-D区3号楼328
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 用于测量光学玻璃、晶体和液体在不同波长下的折射率系数以及温度变化系数dn/dT。可检测光折射率、色散、折射率温度系数、偏振。
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仪器型号： TO-6401NH
产地： 中国
仪器制造商： 上海菲莱测试技术有限公司
仪器负责人： 陈辉
放置地点： 闽都实验室园区-D区3号楼329
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于TO封装后的VCSEL激光器LIV曲线和光谱的测量。
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光谱光度辐射度计

  

 

仪器型号： PR-670
产地： 美国
仪器制造商： 美国Photo Research公司
仪器负责人： 邓种华
放置地点： 海西研究院园区-制造楼813
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于检测半导体照明光源、显示器光源亮度。
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