物理性能分析
 
 

 

 

圆偏振荧光光谱仪

 

高精度高温膨胀仪

仪器型号:CPL-300
产地:日本
仪器制造商:日本分光株式会社(JASCO)
仪器负责人:丁清荣
放置地点:闽都实验室园区-D区3号楼330
联系方式:tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 可检测材料激发态的手性信息,手性发光体系的发射态(激发态)结构的特征。可用于金属发光配合物、有机发光材料的合成和其光致发光(PL)、有机电致发光(EL)性能的相关研究工作;涉及配位化学、有机合成化学、材料化学、晶体化学等众多相关学科研究领域。
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仪器型号:PCY-G-1400
产地:中国
仪器制造商:湖南湘潭湘仪仪器有限公司
仪器负责人:凌军荣
放置地点:闽都实验室园区-D区3号楼320
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 检测陶瓷、玻璃、金属等固体材料的高温膨胀性能,包括:膨胀值、试样线变量、线膨胀系数、体膨胀系数。
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霍尔效应测试仪

 

霍尔效应测试仪

仪器型号:M91
产地: 美国
仪器制造商:美国Laker Shore公司
仪器负责人:吕佩文
放置地点:闽都实验室园区-D区3号楼320
联系方式:tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 通过其特定的噪声优化功能准确的提取、数据处理来实现材料的低迁移率-高迁移率(10-3cm2/Vs-106cm2/Vs)、低阻-高阻(10mΩ~200GΩ)全范围覆盖测试,满足不同需求的材料霍尔测试。
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仪器型号:ET9000
产地:日本
仪器制造商:日本吉时利KEITHLEY
仪器负责人:鲁凯晴
放置地点:海西研究院园区-材料楼626
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 主要用于常温、高温(室温~450K)、低温(4K~室温)霍尔效应测试。
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超声回波材料表征系统

 

荧光光谱仪

仪器型号: UMS-200
产地:法国
仪器制造商:法国TECLAB
仪器负责人: 何秀
放置地点:海西研究院园区-材料楼626
联系方式:tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 主要用于测试超声回波材料表征,通过测量材料的纵波声速、横波声速计算出材料的杨氏模量、泊松比、剪切模量、体积弹性模量等。 
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仪器型号: FluoroMax+ 
产地:日本
仪器制造商:日本HORIBA Instruments
仪器负责人:陈馨媛
放置地点: 海西研究院园区-嘉锡楼1119
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 可用于荧光样品的稳态光谱、荧光寿命和绝对量子产率测定,适用于所有固体和液体样品。
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多功能半导体性能测试系统

 

非接触非损伤方块电阻测试仪

仪器型号: NYMS-II
产地: 中国
仪器制造商:上海能逸半导体科技有限公司
仪器负责人: 周靖
放置地点: 福州大学园区-材料学院318
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 可实现物质内部输运机制分析,广泛应用于金属、半导体、陶瓷、复合材料等。可测块体与薄膜样品在室温及高温下的电导率、电阻率、载流子类型、载流子浓度等。
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仪器型号: LEI-1616AM
产地: 美国
仪器制造商:美国Semilab有限公司
仪器负责人:方照诒
放置地点: 海西研究院园区-1号楼101
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 广泛应用于电子元件测试、材料特性分析、电池阻抗测量等。通过测量不同频率下阻抗变化,深入分析被测对象的内部结构和性能。主要测试项目为薄膜材料的载子移动率全片、方块电阻全片分布。
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导热测试仪

 

塞贝克系数电阻测量系统

仪器型号: DXF-200+
产地: 美国
仪器制造商:美国TA沃特世科技有限公司
仪器负责人:刘溪瑞
放置地点: 海西研究院园区-材料楼626
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 用于测试金属、合金、钻石、陶瓷、石墨、碳纤维、填充塑料、高分子材料的热扩散系数与导热系数。
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仪器型号: ZEM-3
产地: 日本
仪器制造商:日本Advance Riko公司
仪器负责人: 岳柏桥
放置地点: 海西研究院园区-材料楼626
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 塞贝克系数与电导率测试。
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振动样品磁强计

 

电化学综合测试仪

仪器型号: EZ7
产地: 美国
仪器制造商:美国是德科技有限公司
仪器负责人: 杨辉
放置地点: 闽都实验室园区-D区3号楼320
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 主要用于测试材料的磁滞回线、饱和磁化强度、矫顽力、剩磁、矢量磁向量、AC磁阻、FORC测量等。可测软、硬磁铁氧体;多层膜结构;磁粉;强磁性铁镍合金以及其他软磁材料等。 
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仪器型号: MDC 802B-200
产地: 中国
仪器制造商:蔚华科技SPIROX
仪器负责人: 方照诒
放置地点: 海西研究院园区-1号楼101
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 主要用于检测电压-电容曲线、载子浓度纵深分布、绝缘层可动电荷密度分析、绝缘层固定电荷密度分析。
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光电效应实验仪

 

光致发光光谱仪

仪器型号: HL9900
产地: 日本 
仪器制造商:日本东朋科技株式会社
仪器负责人: 方照诒
放置地点: 海西研究院园区-1号楼101
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 主要用于常温霍尔测量。
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仪器型号: PLATOM
产地: 韩国
仪器制造商:韩国Etamax
仪器负责人: 方照诒
放置地点: 海西研究院园区-1号楼101
联系方式: tscb@fjoel.cn
仪器状态: 在用
主要功能: 主要用于测试光致光光谱、白光反射率、表面粗糙度和表面翘曲等。
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