圆偏振荧光光谱仪

高精度高温膨胀仪

仪器型号：PCY-G-1400
产地：中国
仪器制造商：湖南湘潭湘仪仪器有限公司
仪器负责人：凌军荣
放置地点：闽都创新实验室-D区3号楼320
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 检测陶瓷、玻璃、金属等固体材料的高温膨胀性能，包括：膨胀值、试样线变量、线膨胀系数、体膨胀系数。
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霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪

仪器型号：ET9000
产地：日本
仪器制造商：日本吉时利KEITHLEY
仪器负责人：鲁凯晴
放置地点：海西研究院-材料楼626
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于常温、高温（室温~450K）、低温（4K~室温）霍尔效应测试。
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超声回波材料表征系统

荧光光谱仪

仪器型号： UMS-200
产地：法国
仪器制造商：法国TECLAB
仪器负责人： 何秀
放置地点：海西研究院-材料楼626
联系方式：tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于测试超声回波材料表征，通过测量材料的纵波声速、横波声速计算出材料的杨氏模量、泊松比、剪切模量、体积弹性模量等。 
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仪器型号： FluoroMax+ 
产地：日本
仪器制造商：日本HORIBA Instruments
仪器负责人：陈馨媛
放置地点： 海西研究院-嘉锡楼1119
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 可用于荧光样品的稳态光谱、荧光寿命和绝对量子产率测定,适用于所有固体和液体样品。
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多功能半导体性能测试系统

仪器型号： NYMS-II
产地： 中国
仪器制造商：上海能逸半导体科技有限公司
仪器负责人： 周靖
放置地点： 福州大学-材料学院318
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 可实现物质内部输运机制分析，广泛应用于金属、半导体、陶瓷、复合材料等。可测块体与薄膜样品在室温及高温下的电导率、电阻率、载流子类型、载流子浓度等。
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导热测试仪

塞贝克系数电阻测量系统

仪器型号： DXF-200+
产地： 美国
仪器制造商：美国TA沃特世科技有限公司
仪器负责人：刘溪瑞
放置地点： 海西研究院-材料楼626
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 用于测试金属、合金、钻石、陶瓷、石墨、碳纤维、填充塑料、高分子材料的热扩散系数与导热系数。
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仪器型号： ZEM-3
产地： 日本
仪器制造商：日本Advance Riko公司
仪器负责人： 岳柏桥
放置地点： 海西研究院-材料楼626
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 塞贝克系数与电导率测试。
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振动样品磁强计

电化学综合测试仪

仪器型号： EZ7
产地： 美国
仪器制造商：美国是德科技有限公司
仪器负责人： 杨辉
放置地点： 闽都创新实验室-D区3号楼320
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于测试材料的磁滞回线、饱和磁化强度、矫顽力、剩磁、矢量磁向量、AC磁阻、FORC测量等。可测软、硬磁铁氧体；多层膜结构；磁粉；强磁性铁镍合金以及其他软磁材料等。 
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仪器型号： MDC 802B-200
产地： 中国
仪器制造商：蔚华科技SPIROX
仪器负责人： 方照诒
放置地点： 海西研究院-1号楼101
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于检测电压-电容曲线、载子浓度纵深分布、绝缘层可动电荷密度分析、绝缘层固定电荷密度分析。
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光电效应实验仪

光致发光光谱仪

仪器型号： HL9900
产地： 日本 
仪器制造商：日本东朋科技株式会社
仪器负责人： 方照诒
放置地点： 海西研究院-1号楼101
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于常温霍尔测量。
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仪器型号： PLATOM
产地： 韩国
仪器制造商：韩国Etamax
仪器负责人： 方照诒
放置地点： 海西研究院-1号楼101
联系方式： tscb@fjoel.cn
仪器状态： 在用
主要功能： 主要用于测试光致光光谱、白光反射率、表面粗糙度和表面翘曲等。
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